美国梅特勒-托利多 MS半微量分析天平

同时确保准确的称量结果。

美国梅特勒-托利多 MS半微量分析天平产品特点：

采用单模块传感器(MonoBloc)，具有显著的抗冲击、抗过载性能，同时确保准确的称量结果

采用280MIPS处理器及72MHz总线速度，确保快速获得称量结果

清晰的高对比显示屏(HCD)，轻松读取称量结果

动态图形显示(SmartTrac)，直接显示天平已使用的称量范围

多达3个功能键(SmartKeys)，可直接调用预设的称量应用程序

超大去皮键设计，便于用户的称量操作

1/10d可读性缩位功能，快速获得稳定称量结果

菜单保护功能，避免天平设置被更改

全自动校准技术(FACT)，温度漂移和时间触发确保始终获得准确的称量结果

多级数字滤波和补偿技术，优化天平在不同称量条件下的操作性能

动态温度补偿，实时修正环境温度波动对称量结果的影响

易于使用的天平自维护功能，例如：键盘测试、重复性测试等