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德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析。

型号 FISCHER X-RAY XDL 230 X 德国FISCHER 价格面议

德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
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FISCHER X-RAY XDL 230 X型号
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产品简介

德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品简介:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

XDL230 有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器,比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了FISCHER完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品应用:

测量大规模生产的电镀部件

测量超薄镀层,例如:装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

测量印刷线路板

分析电镀溶液


技术参数

设计用途能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXPF), 用于测定超薄镀层和溶液分析。
元素范围从元素氯(17)到铀(92)
设计理念台式仪器,测量门向上开启
测量方向由上往下
X射线管带铍窗口的钨管
高压三档:30KV,40KV,50KV
孔径(准直器)φ0.3mm 可选:φ0.1mm;φ0.2mm;长方形0.3mm x 0.05mm
测量点尺寸取决于测量距离及使用的准直器大小
X射线接收器比例接收器
测量距离0~80mm,使用专有保护的DCM测量距离补偿法
视频系统高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置
放大倍数40x~160x
电源要求200V,50Hz
功率很大120W(不包括计算机)
保护等级IP40
外部尺寸宽x深x高(mm):570x760x650
内部测量室尺寸宽x深x高(mm):460x495x(参考“样品较大高度”部分的说明)
重量107KG
使用时温度10℃~40℃
存储或运输时温度0℃~50℃
空气相对湿度≤95% 无结露
设计手动X/Y平台
X/Y平台较大移动范围92x150mm
可用样品放置区域420x450mm
Z轴马达驱动
Z轴移动范围140mm
样品很大重量20KG
样品很大高度140mm
激光(1级)定位点有
计算机带扩展卡的Windows®计算机系统
软件标准:WinFTM®V.6 LIGHT
CE合格标准EN 61010
型式许可作为受完全保护的仪器

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